精测高精度色彩分析仪。
武汉精测电子集团股份有限公司展区。
荆楚网（湖北日报网）讯（记者周婵 湖北日报大学生记者程若桐、秦泽）与光同行，探索未来。5月16日，第十九届“中国光谷”国际光电子博览会暨论坛（2023武汉光博会）在中国光谷科技会展中心举办。在武汉精测电子集团股份有限公司展区，业内首款1毫米口径色彩分析仪、具有完全自主知识产权的光学特征检测仪……一个个弥补国内空白的“拳头产品”吸引了众多参观者的目光。
武汉精测电子集团股份有限公司是在平板显示测试领域的“国家制造业单项冠军示范企业”。本次展会，精测电子以“引领精密检测技术，共创最佳视觉体验”为主题，主要展示集团显示领域检测产品及技术解决方案，包括色彩分析仪、光谱仪、线扫光谱共焦传感器、色彩管理综合测量仪、成像式亮度计、多角度光谱仪和AR/VR检测设备等十个系列，其中多款产品为首次亮相。
“这款就是获得2021年‘武汉名品’认定的高精度色彩分析仪，不过我们又对它进行了升级创新，新增更多测量口径，产品也更丰富，可以灵活应用于各种不同的使用和测试场景。”精测电子相关负责人介绍，JC-EYE-2色彩分析仪是业内首款1毫米口径色彩分析仪，精度高，速度快，性能优异，可广泛应用于当下流行的全面屏手机屏下摄像头、ARVR显示模组等小尺寸显示发光器件检测。
线扫光谱共焦传感器，是精测电子经过三年研发、首次拿出参展的新品之一。精测电子相关负责人介绍，该产品重点攻关了光路设计和后期一站式数据处理的创新技术难点，线扫宽度达到8.8mm，满量程下可实现每秒2600线测量速度，Z向分辨率达0.55μm，具有测量精度高、速度快、应用广的特点，具备亚微米级别的精度和分辨率，材质适应性好，可测量各种材质的表面轮廓，尤其对透明/半透明材质的层析、高反射率材质的表面测量效果好，可用于外观轮廓及表面缺陷测量，多层透明材质分析、位置和距离识别等应用，主要用于半导体、显示面板及3C产品等领域，如晶圆芯片、点胶贴合、终端产品表面形貌、缺陷检测等。
“这款JI-NED成像式检测系统，是我们自主研发的光学特征检测仪器，其测量技术已经达到国际水准。”精测电子相关负责人向记者详细介绍了它的工作原理，通过控制超广角镜头入瞳位置，模拟人眼对近视显示设备的感知，来分析评价产品性能，主要应用于穿戴式显示产品，如AR、VR的光学检测。
精测电子相关负责人表示，光博会是国内规格最高、最有影响力的光电子信息专业展会之一，作为武汉本土企业，精测电子希望能展示自身在半导体、显示、新能源检测方面的先进技术和创新实力，与行业伙伴共同探寻未来新发展。
